Im Alter von 85 Jahren verstarb am 22. Dezember 2017 Prof. Dr. Alfred Benninghoven. Sein Name ist untrennbar verknüpft mit der beeindruckenden Entwicklung der Sekundärionen-Massenspektrometrie in den vergangenen 50 Jahren.
In den 1970er Jahren entwickelte er mit der „static SIMS“-Methodik die Grundlagen für die heute weltweit eingesetzte TOF-SIMS-Technologie. In den 1980er Jahren war er in Münster neben der Erforschung materialwissenschaftlicher Fragestellungen auch intensiv beteiligt an den Diskussionen zur Bildung großer Molekülionen. Er organisierte unter anderem die Tagungsserien „SIMS I – XIV“, „SIMS Europe I – VI“ sowie die Tagungsserie „IFOS I – V“ (Ion Formation from Organic Solids), die neben der Sekundärionen-Massenspektrometrie die wichtigen „Meilenstein“-Methoden Plasmadesorption (PDMS), Laserdesorption (LDMS), Thermospray, Liquid SIMS, Fast Atom Bombardment (FAB), Matrix-unterstützte Laserdesorption/Ionisation (MALDI) sowie verschiedene Nachionsisationsverfahren behandelte. Alfred Benninghoven hat den Kontakt zu den verschiedenen Strömungen der modernen Massenspektrometrie auch nach seiner Emeritierung im Jahre 1997 bis ins hohe Alter aufrecht erhalten. Er wird als ein bedeutender Massenspektrometriker unvergessen bleiben.
